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鋁膜測(cè)厚儀鋁膜測(cè)厚儀主要適用于薄膜、紙張等非金屬軟包裝材料上鋁層厚度的高精度測(cè)量，隨著新型包裝材料的發(fā)展，要求阻透性薄膜上真空沉積大約35nm的鋁涂敷層，因而極大提高了薄膜對(duì)氣體的阻透性，鋁膜的厚度直接影響膜阻透性，因而測(cè)試和控制鋁膜厚度就尤為重要，該產(chǎn)品調(diào)整參數(shù)還可對(duì)金、銀等其他金屬涂層的測(cè)量。
更新時(shí)間：2024-07-27產(chǎn)品型號(hào)：AT-LM301
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